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田村 浩司; 岡崎 哲治; 足立 肇; 大場 弘則; 柴田 猛順
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 38(4A), p.2122 - 2123, 1999/04
被引用回数：9 パーセンタイル：42.94(Physics, Applied)ウランイオン衝撃により、ウラン表面から放出される二次電子の放出係数を、イオン衝撃エネルギーが300~3000eVで測定した。ウラン表面はウランを蒸着して作り、ウランイオンはレーザーイオン源から生成した。二次電子は、しきいエネルギーの1000eV以下では発生しなかった。それ以上のエネルギーでは、二次電子放出係数はイオンエネルギーに比例して増加し、イオンエネルギー3000eVでは0.12になった。この結果からレーザーウラン濃縮における二次電子放出によるエネルギー損失は小さいことが明らかになった。
田村 浩司; 岡崎 哲治; 足立 肇; 大場 弘則; 柴田 猛順
JAERI-Research 98-073, 10 Pages, 1998/12
JAERI-Research-98-073.pdf:0.52MB
ウランイオン衝撃によるウラン表面からの二次電子放出係数をイオン衝撃エネルギー300~3000eVの範囲で測定した。ウラン表面はウラン原子の蒸着により作り、ウランイオンビームは共鳴イオン化法を用いたレーザーイオン源から引き出した。衝撃エネルギー約1000eV以下では、二次電子の放出はなかった。しきい値1000eV以上での二次電子放出係数は、イオン衝撃エネルギーのほぼ一次関数で増加し、3000eVの時0.12であった。
, U
and U
D.C.Gregory*; M.S.Huq*; F.W.Meyer*; D.R.Swenson*; 左高 正雄; S.Chantrenne*
Physical Review A, 41(1), p.106 - 115, 1990/01
被引用回数：8 パーセンタイル：47.78(Optics)ウランイオンの電子衝撃による電離断面積の測定を行った。イオン種は一価電離についてU、U、Uであり、二価電離についてU、Uであった。電子のエネルギー範囲はしきい値から1500eVであった。電子のエネルギー範囲はしきい値から1500eVであった。すべての入射ウランイオンのビーム中には準安定イオンの存在が認められた。電離断面積の測定結果より電子による多価ウランイオンの電離は主として間接電離によることがわかった(断面積の最大値付近で直接電離に対して間接電離の寄与は4~20倍であった)。Uイオンの電離に関してのみ歪波法による理論計算があるが実験値とは非常に良い一致を見た。またU、Uの一価電離において共鳴ピークが見出された。
